UMS 3623 - Centre de MicroCaractérisation Raimond Castaing



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MEB FEG JEOL JSM 6700F - EDS

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Contacts

Claudie Josse , Stephane Le Blond du Plouy , Laurent Weingarten

Présentation

MEB JEOL JSM-6700F
Le JSM-6700F est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FEG) équipé d’un EDS.

Caractéristiques Techniques

  • Source à émission de champ - cathode froide
  • Tension d’accélération de 0,5 à 30 kV
  • Imagerie électrons secondaires haute résolution : 1 nm à 15 kV ; 2,2 nm à 1 kV
  • Imagerie électrons rétrodiffusés
  • EDS (détection d’éléments légers, résolution 135 eV)
  • Date d’acquisition : novembre 2003

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Equipement : MEB FEG JEOL JSM 6700F - EDS

La réservation est ouverte jusqu'au 20 01 2020 ; les jours de réservation sont les Lundi, Mardi, Mercredi, Jeudi, Vendredi .

octobre 2019 novembre 2019 décembre 2019 janvier 2020
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Legende : créneaux disponibles, ouverts aux inscriptions créneaux disponibles affichés ci dessous

- Mardi 22 octobre Mercredi 23 octobre Jeudi 24 octobre Vendredi 25 octobre - Lundi 28 octobre
9h-12h 9h-12h
14h-17h 14h-17h

Légende :
libre
occupé
fermeture