UMS 3623 - Centre de MicroCaractérisation Raimond Castaing



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MET JEOL JEM-ARM200F Cold FEG corrigé sonde - EDS/EELS

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Contacts

Armel Descamps-Mandine , Teresa Hungria

Présentation

Le JEM-ARM200F Cold FEG est un microscope électronique en transmission à émission de champ corrigé sonde et couplé à un spectromètre EDX et à un spectromètre en perte d’énergie (EELS).

Caractéristiques Techniques

• Source à émission de champ type froide
• Tension d’accélération réglable de 60 à 200 kV
• Résolution imagerie TEM = 1.9 Å point, 1.0 Å ligne
• Résolution imagerie STEM= 0.78 Å (STEM HAADF 200kV)
• Porte-objets renforcés simple tilt et double tilt
• Correcteur Cs sonde
• Détecteurs STEM : HAADF JEOL, BF JEOL, HAADF GATAN et BF/DF GATAN
• Acquisition numérique des images : Camera GATAN ULTRASCAN 2k*2k Modèle 994
• Analyse chimique à l’échelle atomique (EDS et EELS)
• Analyse EDX SDD CENTURIO-X (résolution 129 eV)
• Spectromètre GATAN GIF QUANTUM ER (résolution 0.1eV)
• Date d’acquisition : 2014

Planning de réservation

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Equipement : MET JEOL JEM-ARM200F Cold FEG corrige sonde - EDS/EELS

La réservation est ouverte jusqu'au 24 07 2019 ; les jours de réservation sont les Lundi, Mardi, Mercredi, Jeudi, Vendredi .

avril 2019 mai 2019 juin 2019 juillet 2019
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Legende : créneaux disponibles, ouverts aux inscriptions créneaux disponibles affichés ci dessous

- Jeudi 25 avril Vendredi 26 avril - Lundi 29 avril Mardi 30 avril Jeudi 02 mai
9h-12h 9h-12h
14h-17h 14h-17h

Légende :
libre
occupé
fermeture