UMS 3623 - Centre de MicroCaractérisation Raimond Castaing



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MET JEOL JEM 2100F - EDS

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Contacts

MET JEOL JSM 2100F - EDS

Armel Descamps-Mandine , Laurent Weingarten

Présentation

Le JEM-2100F est un microscope électronique en transmission à émission de champ qui permet de travailler en plusieurs modes :

  • TEM : microscopie conventionnelle, haute résolution et micro-diffraction
  • CBD : faisceau convergent pour l’analyse structurale
  • NBD : nano-diffraction (diffraction à l’échelle nanométrique)
  • EDX : microanalyse par dispersion d’énergie des photons émis par l’échantillon sous l’effet de l’impact des électrons incidents

Caractéristiques Techniques

  • Source à émission de champ
  • Tension d’accélération : 200 kV
  • Résolution : 2,3 Å
  • Porte-objets simple tilt et double tilt
  • Etage STEM
  • Acquisition numérique des images : camera CDD Gatan 794 1K x 1K
  • Analyse EDX : SDD Brucker (détection d’éléments légers, résolution 127 eV).

Date d’acquisition : 2005

Planning de réservation

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Equipement : MET JEOL JEM 2100F - EDS

La réservation est ouverte jusqu'au 24 07 2019 ; les jours de réservation sont les Lundi, Mardi, Mercredi, Jeudi, Vendredi .

avril 2019 mai 2019 juin 2019 juillet 2019
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Legende : créneaux disponibles, ouverts aux inscriptions créneaux disponibles affichés ci dessous

- Jeudi 25 avril Vendredi 26 avril - Lundi 29 avril Mardi 30 avril Jeudi 02 mai
9h-12h 9h-12h
14h-17h 14h-17h

Légende :
libre
occupé
fermeture