Centre de MicroCaractérisation Raimond Castaing




Rechercher


Accueil > Equipements > Microscopes Electroniques à Balayages (MEB)

MEB FEG JEOL JSM 6700F - EDS

Allez directement au planning de réservation

Contacts

Claudie Josse , Stephane Le Blond du Plouy , Laurent Weingarten

Présentation

MEB JEOL JSM-6700F
Le JSM-6700F est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FEG) équipé d’un EDS.

Caractéristiques Techniques

  • Source à émission de champ - cathode froide
  • Tension d’accélération de 0,5 à 30 kV
  • Imagerie électrons secondaires haute résolution : 1 nm à 15 kV ; 2,2 nm à 1 kV
  • Imagerie électrons rétrodiffusés
  • EDS SDD 80mm2 OXFORD Instruments - Logiciel Aztec
  • Analyse automatisée des particules - Logiciel Aztec Feature
  • Date d’acquisition : novembre 2003

Planning de réservation

Planning en consultation. Si vous souhaitez réserver IDENTIFIEZ VOUS

Equipement : MEB FEG JEOL JSM 6700F - EDS

La réservation est ouverte jusqu'au 16 01 2022 ; les jours de réservation sont les Lundi, Mardi, Mercredi, Jeudi, Vendredi .

- 9h-12h 14h-17h
Lundi 18 octobre
Mardi 19 octobre
Mercredi 20 octobre
Jeudi 21 octobre
Vendredi 22 octobre

Légende :
libre
occupé
fermeture