Centre de MicroCaractérisation Raimond Castaing




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Nouveaux systèmes EDS pour les MEB

Les systèmes de microanalyses X à sélection d’énergie (EDS) viennent d’être renouvelés
sur les MEB JEOL. Cette opération a pu être réalisée grâce à une aide déterminante de l’INC du CNRS. Les EDS bénéficient maintenant de la performance de détecteurs SDD (Silicon Drift Detector) :
- XMax 80mm2 sur le MEB JEOL JSM 6700F
- Ultim Max 100mm2 sur le MEB JEOL JSM7100F couplé à l’EBSD

Ces détecteurs fonctionnent tous les deux avec le dernier logiciel d’acquisition d’Oxford Instruments AZtec Live avec en plus l’option Aztec Feature pour l’analyse automatisée des particules.

Le centre de microcaractérisation remercie le CNRS-INC pour le financement de ce projet.